대림엔지니어링, KORTEX에 IR염색시험기 출품
대림엔지니어링, KORTEX에 IR염색시험기 출품
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  • 승인 1998.04.02 00:00
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대림엔지니어링(대표 정연국)이 오는 5월 2일 한국종합전시 관에서 개최되는 국제섬유기계전시회(KORTEX)에 IR염색 시험기 「Starlet」을 출품한다. 이번에 대림엔지니어링이 출품하는 Starlet은 보다 정확하고 쾌적한 환경속에서 염색데이타를 얻기 위해 설계, 제작된 최 첨단 마이크로프로세싱 IR염색시험기이다. 이 염색시험기는 마이크로프로세스 콘트롤러에 의해 온도를 제어함에 따라 0.2%의 정밀한 온도를 제어할 수 있다. 또한 염색시험기의 특성에 따라 제어 이상, 시간정지, PID등 제어변수를 조정하여 정확한 제어에 효율성 향상, 기본패턴 60개까지 입력기능과 내장배터리에 의해 5년간 데이타를 유 지할 수 있다. 이와함께 사용자가 직접 염색시간 및 온도데이타를 전면 KEY PAD에서 입력시켜 임의의 구간에서 진행이나 상황에 따른 적응성이 매우 뛰어나며 또한 승온 및 냉각이 진행되고 있는 동안 LED 디스플레이에 진행중임을 알려준다. 시료디스크의 로테이션을 0~60rpm/min까지 스피드 콘트롤러 및 디지털 타고 메터를 이용하여 사용자가 원하는 회전수로 시험 가능하다는 것이다. 사용자의 안전을 위해 시험중 문을 열면 안전센서가 작동하 여 시료디스크의 회전이 자동으로 정지되도록 설계 제작되어 있어 사용자가 안전하게 사용할 수 있다. 온도조절기 및 온도센서의 결함이 있을 경우 프로그램의 진 행이 되지 않도록 제작되어 기기의 손상을 방지할 수 있으며 또한 특수온도 센서를 장착하여온도편차를 130℃ AT±0.5℃ 까지 유지 가능하다. 내부는 SUS #304 POLISHING판 표면에 전해처리를 하여 부식 및 오염이 발생하지 않으므로 청결히 사용할 수 있다. 또한 테스트 보틀표면에 흑색코팅을 하지 않고 시험할 수 있 으므로 코팅의 파손으로 인한 시험편의 오염 및 얼룩 발생을 방지했디. 도어에 강화투시창을 부착한 이 염색 시험기는 시험중 내부 를 관찰할 수 있으며 투시창 파손을 방지하기 위해 또 다른 특수판을 부착했다. 또한 인버터 모터를 장착함으로써 비이커 모터의 급가동으로 인한 과부하 및 파손을 방지하기 위해 타임 시그널 메모리 방식을 채택했으며 이와함께 특수도장(분체)을 하여 충격에 도 강하며 외관의 디자인도 뛰어난 염색시험기이다. 한편 기존 염색시험기의 경우 PEG(글리세린)를 열매로 사용 하여 승온시켜 진행하던 방법에서 탈피한 이 염색시험기는 적외선 히팅 및 에어서큐레이션과 워터서큐레이션 쿨링을 적 용하여 시험 전후 기름의 누출로 인한 시험편의 오염 및 주 위환경의 오염을 완전히 해결한 기능 및 성능면에서 뛰어난 염색시험기이다. <박상혁 기자>

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